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IRD sedia encontro de metrologia das Américas

  • Publicado: Quarta, 03 de Maio de 2017, 13h40
  • Última atualização em Quinta, 04 de Maio de 2017, 12h32

O IRD receberá, de 3 a 6 de abril, participantes de 34 países-membros da Organização dos Estados Americanos que integram o Sistema Interamericano de Metrologia (SIM). O evento é fechado para os participantes do SIM, mas uma das apresentações será aberta aos profissionais e pesquisadores em geral. Dia 4, terça, às 9 horas, Lisa Karam profere a palestra Rastreabilidade para as Grandezas das Radiações Ionizantes. A palestra será em inglês, sem tradução simultânea.

O SIM foi criado para promover a cooperação em metrologia e implementação de um sistema global, trazendo confiabilidade às medições. O Diretor de Metrologia Científica e Industrial do Inmetro Humberto Brandi é o coordenador dessa rede para a América do Sul e o encontro no Brasil vai englobar a reunião do Conselho do SIM; a reunião do QSTF, grupo responsável pela revisão e aprovação dos sistemas de gestão da qualidade dos membros do SIM; e a reunião do comitê técnico. Além de promover a integração entre os países-membros, o organismo estimula a inovação, a competitividade, o comércio, a segurança para o consumidor e o desenvolvimento sustentável. O evento é uma realização conjunta do SIM, Inmetro e IRD.

Lisa Karam é pesquisadora do NBS/NIST, nos EUA. Seu trabalho está voltado à interação de radiação ionizante em sistemas biológicos e na aplicação da radioatividade na indústria e na medicina. É representante do NIST no Conselho sobre Medições e Padrões de Radiação Ionizante (CIRMS) e preside o Comitê Consultivo sobre Radiação Ionizante do Comitê Internacional de Pesos e Medidas (CIPM), Seção II (medição de radionuclídeos).

Mais informações O endereço de e-mail address está sendo protegido de spambots. Você precisa ativar o JavaScript enabled para vê-lo.. O IRD fica na Avenida Salvador Allende s/n, Barra.

Sobre a pesquisadora https://www.nist.gov/people/lisa-r-karam

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